请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。
器件型号：CC1120 大家好、
客户对 CC1120进行了 RX/TX 测试、其配置如下：
- 前导码2 字节
- 同步字 16位
- Pktlen 40字节
受测单元是基于 tidr227的演示板- 420-470 MHz (CC1120)射频布局参考设计原理图
下图显示了 AGC 相关寄存器的配置：
在测试时、它们读取以下寄存器：
它们根据不同的输入信号强度得到结果：
他们对结果有一些疑问：
从上图中可以 看出、某些测试单元的 AGC 前端 在固定信号强度下波动、原因是什么？
AGC 的调整机制是什么？
软件上的元件会 影响软件上的 AGC 增益吗？
硬件是否也会对 AGC 增益产生影响？ 如果是、什么是元素？
5. AGC 的波动 导致接收错误，是否有任何改进建议？
谢谢！
BR、
维基
