[参考译文] CC1310：需要更好地解释 CC1310 A/D 输入结构/参考设计

您好、MWagner、

1)

传感器控制器文档中提供了简化图和说明：

https://software-dl.ti.com/lprf/sensor_controller_studio/docs/cc13x0_cc26x0_help/html/adc__0.html 

2)

该基准实际上被修整为比4.3V 高1%的目标值、但结果的增益和偏移被测量并存储在 FCFG 中、供驱动程序库使用。 如果使用了 driverlib API、则未缩放模式下的正确基准电压将为1.478V

即使内部基准电压调节为4.3V、最大输入电压也不得高于 VDDS (最大3.8V)。 基准电压实际上不是4.3V、但输入信号会降低、因此相对于实际输入电压、基准电压看起来像是4.3V。

为了确保偏移/增益得到正确补偿、应使用以下 driverlib 命令来读取 ADC：

int32_t GAIN = AUXADCGetAdjustmentGain (refSource)；
int32_t offset = AUXADCGetAdjustmentOffset (refSource)；

int32_t adcValue =进行 ADC 测量；

int32_t ADCResultAdjusted = AUXADCAdjustedValueForGainAndOffset (adcValue、增益、偏移)：

如果配置为(hwAttrs->returnAdjustedVal)、则在 ADC TI-RTOS 驱动程序中处理此问题。

您好、Erik、

感谢您的反馈。 我只想确保我们理解正确、因为您提到" 基准实际修整为高于4.3V 1%的目标值"、但"基准电压不是真正的4.3V、但输入信号会降低、因此基准电压看起来像4.3V "。 查看链接和您的评论、我们的理解是否正确？：

-器件中产生的实际基准电压为4.30V (典型值)、4.343V (高出1%)(最大值)

-基准电压始终按1408/4095的因子进行缩放 、因此在任何模式下、实际 ADC 基准电压始终为1.478V。 该基准也是不使用输入调节时的最大输入电压。  

-启用缩放后、输入按相同 的1408/4095因子进行缩放、这相当于具有4.30V 基准电压且没有输入缩放(除了最大输入受 VDDS 值限制)。

由于主要关注的是精度、您能否在下面分享您的反馈？：

-实际内部基准电压的典型值是否为4.30V？ 其中一个问题是单个十进制精度、因为我们将其指定为与缩放"等效"、而不是实际的缩放基准电压。

-是否应该考虑与输入缩放电路相关的任何额外误差？

谢谢、

Antonio

为了清楚地了解我对规格的期望、可以找到有关器件 ADS8512的一些德州仪器(TI)模数转换器文档示例。  即使使用激光修整、内置基准的精度也很少超过0.1%、并且还规定了温度漂移。  请记住、在生成软件规范之前、处理器文档的"硬件部分"中会提供类似的详细信息。  我从事硬件系统设计、并指导软件工程师进行访问、确保达到预期的精度。  感谢你的帮助。

Erik、

   请确认随附的扫描是 CC1310测量系统的适当容差分析。  (是/否) 假设已启用缩放。

通常情况下、我们会连接3.7V 标称锂聚合物电池、但在充电期间以及生产/编程期间、此信号链会在草图中的信号"VBAT"上留下5.00V 的印象。

此致、

M.Wagner

请参阅下一条消息。  Antonio 将插入草图的 PDF。

-M.Wagner

您好！

我不是 ADC 专家、但根据 此处解释的总未调整误差的定义：

https://e2e.ti.com/blogs_/archives/b/precisionhub/archive/2014/10/14/adc-accuracy-part-2-total-unadjusted-error-explained 

总未调整误差(TUE)表示在不应用任何偏移或增益误差校正的情况下可从 ADC 获得的精度。

使用 CC1310数据表中的数字 、可得出 TUE 在    4.3V 内部基准电压下约为4.6LSB 或4.9mV。 这不考虑不同温度的影响。 另请注意、这没有任何偏移或增益误差校正。 如果您在设置中进行校准、TUE 数将下降、并由 DNL 和 INL 主导。

您使用了哪种公式来确定不确定性、以及如何获得这些术语？

我将与团队核实您的图表是否正确。

请与熟悉完整 A/D 特性的人交谈。  在不受温度影响的情况下了解精度是无用的。  我们的产品在佛罗里达州至阿拉斯加的户外使用。  这不是室温实验室软件实验。  您似乎期望分频器和基准是"完美"(过温)、这一点我怀疑、因此我需要知道它在器件整个温度范围(-40C 至+85C)内的性能。 即使是我使用过的一些最佳 TI 基准也是0.05%的最佳基本容差、不包括温度影响、因此不可能由 INL 主导。

我最近在一个具有6ppm/C 漂移的设计中使用了参考 REF3430QDBVRQ1。  我们在低至-25°C 的温度下运行、这会提供50°C 的环境温度范围、例如额外产生0.03%的误差(在0.05%的误差之上)。

我详细介绍了公式的各个元素、您只能为我提供"1%"的精度。   在这种情况下、基准或分频器的1%误差(过温)将淹没2LSB INL 误差。

如果有软件更正、我仍然需要得到结果的残余误差。  在这种情况 下、请参阅特定文档、了解要使用的寄存器、要运行的例程以及它们需要运行的频率(指示硬件随时间/温度变化的可重复性)。

我很可能可以将其设为1%、但我没有时间或器件数量来进行具有统计学意义的实验以进行测量。  我需要一个完全表征的器件、对这些数字进行计算、并查看结果的精度是否足以估算电池容量。  我只需要知道该部件是如何设计的。

如果效率更高、我可以进行电话会议、团队会议或缩放会议、以便在您当地时间内满足您的需要、前提是您能让合适的人与我交谈。  我们每年销售这些剪辑中的~30-50K+、并调整了我们的产品以实现自动 Covid-19联系人跟踪、今年的潜在订单将超过20万件。 我们面临损坏前端的当前配置风险、需要决定下一步要做什么。

谢谢你。
-M.Wagner