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[参考译文] CC1101：晶体频率校准

admin
Guru**** 2553450 points
Other Parts Discussed in Thread: CC1101

请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/wireless-connectivity/sub-1-ghz-group/sub-1-ghz/f/sub-1-ghz-forum/771493/cc1101-calibration-of-crystal-frequency

器件型号：CC1101

大家好

在我们的 CC1101生产单元上、我们在868MHz 设计上使用27MHz 晶体。 通过使用 GDO0 (CLK/192)的默认配置来测量时钟输出、我们发现了由晶体和负载电容器容差引起的大量单元之间的频率偏移。 此频率偏移导致旧批次中的商品无法与新批次中的商品通信。

所提问题的最后意见是修改 FREQOFF 寄存器。 我用一些小值尝试了这种方法、发现它解决了批次之间无法通信的器件问题。

我的问题：除了寻找质量更好的组件之外、在传输载波恰好匹配868MHz 之前、调整频率以修改此 FREQOFF 寄存器的正确方法是什么？

提前感谢

Justin

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    TI__Guru**** 2553450 points
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    -您是否知道设置中的频率偏移容差？ 注：
    确保接收所需的最小 RX 带宽由以下公式给出：Rx BW =信号带宽+ 4*ppm 晶振*射频频率运行

    可以、您可以调整 FREQOFF 寄存器以获得正确的频率。 这将处理初始频率偏移、但您仍需要考虑温度和老化。 您还可以考虑稍微增大 RX BW、以考虑频率偏移变化。
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    TI__Guru**** 2553450 points
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    根据 Smart RF Studio、RX Filer 带宽为241kHz、偏差为32.95kHz。 通道间隔~200kHz。

    我们正在使用多个通道、因此我不能过多地增加接收带宽。

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    TI__Guru**** 2553450 points
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    什么是数据速率？

    您是否测量了信号的 OBW 并将其插入到我在上一篇文章中给出的公式中？
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    TI__Guru**** 2553450 points
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    数据速率为76.8kBaud。 遗憾的是、我们目前没有测量输出信号所需的设备。
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    TI__Guru**** 2553450 points
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    对于 FSK、以下内容接近正确值：信号带宽= 2*偏差+数据速率= 142kHz

    假设20ppm、这将得出：
    (2*33+76.8)*1e3+4*20e-6*868e6 =212kHz

    这意味着您应该已经对所选带宽满意。 您测量的失调电压有多大？
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    TI__Guru**** 2553450 points
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    最早的晶体测量的漂移为-50ppm、而较新的晶体测量的漂移为+14ppm、因此这两个单位之间的差值为64ppm。
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    TI__Guru**** 2553450 points
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    如果偏移始终在-50ppm 左右、则表示旧的偏移需要不同的负载电容。 我假设 xtal 上的容差小于50ppm？
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    TI__Guru**** 2553450 points
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    是根据数据表、容差为±10ppm/±30ppm 和±3ppm 的第一年老化。
    我不能排除旧批次中的低质量电容器。 但是、为了避免对所有这些装置进行返工、我希望在我们获得必要的设备后实施校准程序。
    根据数据表、FREQOFF 寄存器的分辨率为 FXTAL/2^14、与大约61ppm 相关。 然而、当频率漂移为-50ppm 的单元更改为 FREQOFF 值1时、它仍然没有与任何更新的单元通信。 将其更改为值2确实与一个较新的(+14ppm)单位通信。 我还尝试了值5、它与值2相同。 我意识到这里没有大的样本库、但1的值肯定应该有效、没有其他的东西？
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    TI__Guru**** 2553450 points
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    不确定我是否同意该计算。 FXTAL/2^14 = 27e6/2^14=1647Hz、即1.9ppm @868MHz
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    TI__Guru**** 2553450 points
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    抱歉、我的印象是"基频"指的是27MHz 的晶体频率、而不是载波868MHz。 这更有意义。
    谢谢你。