[参考译文] CC1350：直流/直流电感器中的噪声

直流/直流性能在很大程度上取决于使用的电感器。 我会使用参考设计中使用的 TDK 器件。 我相信、与 SWRA640相比、它有很多来自不同供应商的有关直流/直流转换器一般用途的应用手册可以更详细地介绍这一点。

您好、Olav、

您能否使用内部 LDO 进行测试、以验证良好器件和不良器件是否使用 LDO 消耗相同的电流？  要对此进行测试、您需要移除电感器并修改 CCFG 文件以使用 LDO。

在您提到的电压图中、这适用于 VDDR、但观察 VDDS 的电压电平似乎如此。 VDDR 电压应约为1.7V。

尊敬的 Diego：

你当然是正确的,我测量了 VDDS 而不是,道歉。 以下是直流/直流模式下 VDDR 的实际测量值：

时间标度更小：

我焊接了电感器并禁用了直流/直流转换器、而且它们在 LDO 模式下也会消耗不同的电流(在不良器件上为3.48uA、而在正常器件上为2.72)。 我将像以前一样附加电流消耗图(绿色显示、红色显示、红色显示、错误)、请告诉我是否需要捕获任何其他内容。

齐心协力：

个人：

谢谢！

您好、Olav、

是否有可能获得具有更高采样率的 VDDR 图表？

在测试代码中、您是否使用任何外设、或将某些引脚设置为输入或输出？ 器件是否刚进入待机状态？

这是示波器在较小时间刻度下的最大采样率(50MS/s)。 我假设它"跳跃"的点是有趣的部分。

每次来看、好设备看起来都是这样的：

而不良器件是这些较小和较大的突变之间的混合情况：

如果您想四处寻址、我将附加从两个通道输出250ms 数据： e2e.ti.com/.../analogue.csv

我正在演示生产测试映像、因此在进入待机模式之前会启用 I2C 和 GPIO 外设(I2C 时钟在使用后会被禁用)。 待机时、我有两个输出引脚和一个输入引脚。 我没想到会禁用它、因为我可以在不同的 PCBA 之间移动 CC1350芯片并看到相同的行为、但我将制作一个测试程序、直接进入待机状态、看看它是否起作用。

看到内部 LDO 的电流消耗也较高、我认为可能存在导致较高电流消耗的外设或 GPIO。 检查具有上拉或下拉电阻的引脚是否设置为不消耗电流的状态、并且输出引脚没有向另一个元件提供电流。 请告诉我们刚刚进入待机状态的计划的结果。

有道理、但我无法消除噪声或较高的电流消耗。 我尝试了几件事来确定原因：

1.制作一个测试程序,简单地进入待机状态。 未启用外设、未触发 GPIO。 两个器件仍处于 LDO 模式。 设备用绿色标出好、用红色标出坏：

平均漏电流会高得多、这可能是由于一些需要复位的有源组件引起的。

2.焊接所有其它有源外部元件,包括 GPIO 上的拉电阻,以排除它们的干扰。 这再次降低了待机电流、但坏器件与正常器件仍有明显差异、并且会消耗更多电流。 电流消耗与我在上面使用的生产测试计划非常相似：

3.修改了测试程序以启用 GPIO 外设并将所有引脚驱动为低电平(仅以确保它们不悬空)。 差别很小

 与您以前使用 CC1350进行的相比、此设计有哪些新的/不同之处？  

您好、Olav、

您能否卸下坏器件、测量 每个引脚的接地电阻并公布结果？

该设计与我们的另一个设计非常相似、我们并未观察到该误差模式。 相关差异：

1. 直流/直流电感器旋转90度下降(同一电感器)
2. VDDR 上的直流/直流大容量电容器(OP 映像中为 C6)明显更大(此设计中为22uF、之前的设计中为2.2uF)
   • 在此设计中、该电容也放置在电源路径之外、如

由于我们也在 LDO 模式下观察噪声情况、因此我尝试减小直流/直流电感器(再次 C6)附近的大容量电容。 将其降低到2.2uF 似乎可消除噪声行为。 这也消除了再次启用直流/直流转换器时的噪声。 因此、我尝试了使用 ccfg 选项 SET_CCFG_MODE_CONF_VDDR_CAP、但无法使用22uF 电容器复制权变措施。 由于参考设计中使用了22uF 电容、因此我不习惯在不知道噪声根本原因的情况下降低电容。

尊敬的 Diego：

我可以这么做、我假设您指的是芯片(而不是 PCBA 上的芯片)。 这是 RSM 型号、我使用引脚3作为接地连接。 NC 只是表示我的万用表根本无法测量连接

我不得不使用一些新的探头并使用不同的万用表、但我在这里重复了所有引脚的测量：

我这次尝试了引脚7和引脚29作为 VSS、得到了类似的结果、希望结果更好。

编辑:我似乎偶然按下了解决按钮,抱歉,我似乎不能撤消它。

某些引脚上的电阻似乎较低。 能否请您在您拥有的好器件上进行相同的测量？

确实如此、使用两个良好的器件进行重复测量、而使用另一个不良器件。

小更新、我们实施了另一个测试步骤、在组装后和其余生产测试后直接比较待机电流。 由于您似乎怀疑硬件损坏了、我们希望排除测试本身对芯片造成的损坏。 我没有理由相信这些测试会有破坏性、但如果我发现任何有趣的事情、我会发布更新。

关于上面好器件与坏器件的比较：我注意到、坏器件上的 DCDC_SW 明显更低、这就是您想的引脚吗？ 如果是、会导致这种情况的原因是什么？它有什么影响？

谢谢

您好、Olav、

是的、我怀疑引脚可能损坏、导致电流消耗增加。 我们已经看到 ESD 导致引脚损坏并增加电流消耗。

您是否能够在组装后和其余生产测试后直接比较电流消耗？ 您的生产空间/设备 ESD 是否安全？

我明白了。 由于我们使用外部的专业工厂进行生产、所以我们非常有信心生产和测试环境是 ESD 安全的。 我会跟进工厂。

我还没有任何数字、可能还需要一段时间才能运行新批次、因为我们目前有大量库存。 如前所述、我们只在大约2%的器件中看到这一点、因此我需要一些标度来获取新的故障样本。 但是、当我们比较新测试中的一些数字时、我会发布更新内容。

谢谢。 如果您有新的数字、请告知我们。

您好、Olav、

您是否使用 RGZ 封装器件？

要排除布局问题或电感器问题、 如果您使用 RGZ 封装并且手头有 CC1350 Launchpad、您是否能够将其中一个不良器件焊接到 Launchpad 并测量安装在 Launchpad 上的器件的待机电流？

尊敬的 Diego：

非常好的主意,但不幸的是这是 RSM 封装。