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[参考译文] CC1312R:针对48MHz 晶振的射频校准

Guru**** 1807890 points
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/wireless-connectivity/sub-1-ghz-group/sub-1-ghz/f/sub-1-ghz-forum/1420695/cc1312r-radio-frequency-calibration-for-48mhz-crystal

器件型号:CC1312R

我正在寻找最好的方法来校准每个器件(生产中)的48MHz 外部晶体、以获得准确的 ISM 频带射频。

我看到不同的校准方法、并且想知道它们的准确度:

1) 1)使用频谱分析仪以被测器件产生的特定频率测量载波的频率。 每次使用命令 CMD_FS 时、获取偏移量并将其应用于命令。

2) 2)电容器阵列调优:是否有基于频率偏移的电容器阵列调优公式、或者我们必须扫描多个电容器阵列配置、直到输出频率良好。 此外、TI 的文档提到使用 CCFG.c 来应用电容器阵列调优值、这将需要项目重新编译。 如何在运行时或使用闪存编程适配器中应用电容器阵列调优值?

3) 3)配置 CC1312以将频率偏移字节添加到接收到的数据包中。 然后使用该偏移量进行校准。

4) 4)使用计时器来测量固件中48MHz 晶体的实际频率。

您能否就每种方法的准确性以及您会推荐哪种方法?

非常感谢!

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    您好!

    当使用相同的晶体和电路板布局布线时、频率偏移应是非常可重复的。 使用内部电容阵列来调优晶体是不使用任何外部负载电容器的理想方法。

    SWRA640应用手册 https://www.ti.com/lit/swra640的第6节中介绍了晶体的电容器阵列调优

    为了对晶体进行调优、最佳方法是测量射频频率偏移。 以特定频率(即915.000 MHz)发送未调制的 Tx 载波、然后测量 相对于指定频率的频率偏移。 如果测量915.002 MHz 、则频率偏移为2kHz、对应于晶体的2.2ppm。