工具与软件:
在我们的项目中、我们使用 CC1312R1F3RGZR。 我们总共收集了大约500个器件。 我们遇到了一个问题、在某些情况下闪存擦除时间异常长并且不确定(看起来像随机的)。 这种情况很少(一批最多10件),但它们存在。 我们对此非常关注。
我们对"正常"样片和"非正常"样片进行了测试比较。 作为测试的一部分、我们在循环中擦除闪存(0x02000:0x4e000)上的存储器区域。 在"正常"采样中、擦除时间需要长达10毫秒、并且每次采样的擦除时间始终相同。 然而、对于"非正常"样本、该时间可能会长达5000毫秒、并且是随机的。
测试结果如下所示。
左侧[ok] | 右侧[nok]

在这方面、我们有以下问题:
1) 1) CC1312R1F3RGZR 的闪存页擦除时间(典型值和最大值)是多少?
2) 2)是否预计会出现这种行为、或者这些缺陷样片是否存在?