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器件型号： SN74HC4851
在 PCN#20240613002（谢尔曼→RFAB）中提到的制造工厂转让之后、我们观察到 SN74HC4851PWR 器件上的电气测量差异。
在 ICT 测试期间、装有谢尔曼制造器件的电路板正常通过测试、而装配有 RFAB 批次 (5559180ML55685683146ML55683140ML5) 的器件始终出现故障、由于测试拒绝而产生生产影响。
执行的验证：
• 用于比较的 PCBA 相同。
• 通过 IC 替换为可疑批次（（A-B-A 交换）。
• TI 器件引起的。
• 用已知良好的装置更换可疑装置可恢复正常工作。
观察到的行为：
• 输出 Y0–Y7 和 COM 节点上的异常二极管模式测量。
• 良好单元：~0.70–0.72 V
• RFAB 批次：~0.50–0.53V（至 GND）和~1.26–1.31V（至 VCC）
• 测量值超出标准 ICT 验收限制。
TI 现场质量部门审核了此案例并建议与应用团队进行咨询、因为相关行为与晶圆制造厂转移相关。
我们希望对 PCN#20240613002 的进一步技术澄清、特别是：
1. 工厂迁移过程中引入了哪些电气、工艺或内部结构变化。
2.在保持在数据表规格范围内的情况下,是否因工厂迁移而存在任何电气差异。
3. 在适用的情况下,技术支持的解释（包括支持证据或特性数据）说明为何标准 ICT 二极管模式测量范围可能需要在此 PCN 之后进行调整。
summary-CPR261140926.pdf 德州仪器 (TI) 的回复 CPR261140926.pdf
Scar 26-01 Electrical Failure.pdf
