[参考译文] SN74LVC1G3157-Q1：耐闩锁

https://e2e.ti.com/support/switches-multiplexers-group/switches-multiplexers/f/switches-multiplexers-forum/1130241/sn74lvc1g3157-q1-durability-against-latch-up

大家好、团队、

客户目前正在调查他们的问题、并想知道模拟开关被锁存的影响。
这是必要的、因为他们希望缩小此问题的原因范围。

1. 例如、如果器件承受过大的浪涌和闩锁、是否有可能同时发生以下 a & b？：
   1. 开关状态固定不变
   2. 设备未出现故障、重启后恢复
2. 您能否告诉我们测试此器件的锁存功能时的最坏情况？
   1. 每个 VIO 引脚之间闩锁耐用性的任何差异
   2. 应进行许多测试以确认闩锁耐用性、例如脉冲电流注入方法。
      是否可以告诉我们这些测试的结果？
      我们想知道哪项测试是最坏的情况、以及测试程序/条件。

此致、
Masaru Oinaga