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https://e2e.ti.com/support/switches-multiplexers-group/switches-multiplexers/f/switches-multiplexers-forum/984331/tmux6119-long-term-drift-of-leakage-current
大家好、
我的客户考虑使用 TMUX6119、他正在提出问题。
泄漏电流是否存在长期漂移、例如 IS (off)、ID (off)、IS (on)？
例如、随着时间的推移、IS (off)会增加。
此致、
Shota Mago
您好、Shota-San、
与所有 TI 器件一样、TMUX6119已经过严格的认证过程、以确保长期可靠性和性能一致性。
具体而言、HTOL (高温工作寿命)测试是一种寿命测试、有助于确定器件的可靠性、并在较高的条件下(即、根据 JEDEC 标准、1000小时@125C)仿真产品的生命周期。 我们在对器件施加应力(预 HTOL)之前和对器件施加应力(后 HTOL)之后进行参数测试、以确保器件仍在特定裕度内满足要求的结果、并且没有漂移或损坏。
根据设计、不需要考虑这些参数漂移。 在产品的整个生命周期内、任何半导体产品都将发生一定的变化、除非由于任何原因/外部因素导致灾难性故障、否则这将在数据表规格范围内。
希望这对您有所帮助。
谢谢、
Sandesh
您好、Sandesh-San、
感谢您提供了信息丰富的答案！
