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[参考译文] SN74CBTLV3126:双向问题

Guru**** 2813875 points

Other Parts Discussed in Thread: SN74CBTLV3126, TMUX1511

请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/switches-multiplexers-group/switches-multiplexers/f/switches-multiplexers-forum/765360/sn74cbtlv3126-bi-directional-issue

器件型号:SN74CBTLV3126
主题中讨论的其他器件: TMUX1511

尊敬的团队:

您是否有任何想法是不能双向的根本原因?

来自主板上系统 CPLD 的信号。

来自 CPU GPIO 的 B 信号和来自 CPU CPLD 控制的 OE 信号。

所有电源序列均由系统 CPLD 控制。

如果我们在 JTAG 升级中从 B 连接到 A、系统将导致关断。

然后我们交换 A 和 B 的信号、系统将正常更新。

请帮助检查 SN74CBTLV3126原理图。

BR

Kevin

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。
    尊敬的 Kevin:
    看起来很奇怪、但需要说明:
    您的系统是具有 CPU 的外部模块和您要更新的具有 CPLD 的主板。
    CPU 使能到模块的开关、并通过 GPIO JTAG 进行仿真以更新 CPLD。
    CPLD 控制主板的电源(如果 JTAG 受到干扰、主板可能会关断)。
    系统在开关方向 B->A 而不是 A->B 上工作

    不对称行为的原因:
    - FET 具有容差,FET A->B 不是 FET B->A
    - FET B->A 具有传播延迟的逆变器

    这是否是从一开始就出现的行为? 您如何交换双方? 开关是主板还是模块的一部分?
    您能否在连接或启用时测量 CPLD 线路上的毛刺脉冲? (用于 CPLD JTAG 线路上定义电平的 PU/PD、用于 CPLD_JTAG_TMS 的电容器10nF)
    您能否使用万用表测量启用/禁用线路的二极管功能? 您可以更换部件吗?
    我假设存在 EFT 事件的缺陷模拟开关部件(开关的一个 FET 消失或异常)。
    没有双向信号、为什么要使用模拟开关?
    BR
    Miko
  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    尊敬的 Miko:

    您说什么是 FET 具有容差、FET A->B 不是 FET B->A? 上次我与您的团队核实时、他们提到它将像5欧姆电阻器。 因此双向性不会有任何问题。 对于容差、您是指延迟时间?

    2.您的意思是 FET B->A 具有传播延迟的逆变器? 我不确定您对逆变器器件意味着什么。

    3.我们使用另一个板跳线交换侧面。

    他们使用 JTAG 来升级代码。 因此、不同通道将具有从 A 到 B 的 TDI 和从 B 到 A 的 TDO。 在 U50中、它们设计的方向相反、这将导致系统故障。

    成功:

    失败:

    或者、您可以使用 P2P 器件型号直接替换该器件并解决此处的问题。 请告诉我。

    BR

    Kevin

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。
    尊敬的 Miko:
    我不确定您在这里意味着什么:
    您能否在连接或启用时测量 CPLD 线路上的毛刺脉冲? (用于 CPLD JTAG 线路上定义电平的 PU/PD、用于 CPLD_JTAG_TMS 的电容器10nF)
    您能否使用万用表测量启用/禁用线路的二极管功能? 您可以更换部件吗?
    我假设存在 EFT 事件的缺陷模拟开关部件(开关的一个 FET 消失或异常)。
    BR
    Kevin
  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。
    尊敬的团队:

    或者、您有更简单的方法来解决此问题、请告诉我。
    因为客户迫切需要向终端客户提供样片产品。
    因此、如果您有合适的建议来解决这个问题、他们将需要使用一个小型卡来跳线。

    BR
    Kevin
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    尊敬的 Kevin:

    感谢您提供的图片、更好地了解您的系统。
    我不是 TI 的、如果理解错误、请更正问题、我没有完成。

    在第一页的数据表中、一个模拟开关的简化版原理图。 A 和 B 之间有两个不同的 FET (p 和 n、非对称)、由输入(OE)控制。 FET 在阈值电压、栅极电容、RDSon 等方面具有容差 。 Rdson 类似于5 Ω 电阻器、但查看6.5电气特性5 <ron<40ohms! 不同的阈值电压会导致不同的开关/延迟时间。 请注意、6.6开关特性的范围存在高达4.2ns-1.9ns=2.1ns 的差异、如果您同时开关(OE)和 B 处的信号、这可能会导致干扰

    详细信息、请访问 http://www.ti.com/lit/pdf/szza030



    2.在第一页的数据表中是一个简化的原理图。 我是指(OE)和上部 FET 之间的附加驱动器。 这只是一个不同之处。

    如果部件未损坏、并且来自 Com-Express 的时序和电平不重要、那么这一切都不会有问题。

    >连接或启用时,您能否测量 CPLD 线路上的干扰? (对于 CPLD JTAG 线路、电容器上定义的电平、PU/PD
    CPLD_JTAG_TMS 大于10nF)
    在所有情况下都必须具有明确定义的信号电平和时序。 有些人使用 TMS 作为 TRESET、因此10nF 接地可以提供帮助
    干扰。 在您的情况下、TMS 被 CLK 锁存。
    清零电平可提供额外的上拉/下拉电阻器。 CPLD 仅集成了弱拉电阻器。
    时序控制 COM Express。
    如果您启用开关并同时更改信号电平、则 CLK 上可能会出现干扰、从而使 CPLD 感到困惑。

    >是否可以使用万用表测量启用/禁用线路的二极管功能? 您可以更换部件吗?
    >我假设模拟开关部件出现故障(开关的一个 FET 消失或异常),可能是 EFT 事件。
    您能否将器件替换为其他 SN74CBTLV3126? ESD 损坏的器件会产生这样的影响。

    在这两种情况下(成功/失败)、我都要测量 U5上示波器 TDI、TMS、TCK 上的信号、以验证上的电平和时序
    信号 upgrade_cld_cpu_MB 的上升沿、或仅使用跳线卡。
    BR
    Miko

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    Kevin、

    我同意这里的 Miko。  

    此部件是双向的、与 TI 的所有无源开关一样、因此在从 A 到 B 或从 B 到 A 通信时不会出现任何问题。 它可以被视为串联电阻(Ron)和并联电容器(Con)。  下面是开关的行为方式示例、并显示了 Miko 在使用两个不同的 FET NFET 和 PFET 时所讨论的内容。   

    您是否遵循了 Miko 推荐的调试步骤?  

    1. 您是否更换了设备、问题仍然存在?

    2. 如果您将卸下的部件放在已知良好的主板上、是否与问题重复?

    3. 您是否能够对信号的输入和输出进行范围控制、以查看是否存在任何差异?  

     

    新 的 TMUX1511器件是您可以尝试的 P2P 替代产品、但如果不知道问题的根本原因、我可以确认这是否可以解决您的问题。

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。
    Kevin、

    我们在几天内没有收到您的消息。 您是否有其他测试结果可供分享、有任何问题或新想法?

    谢谢、
    Adam
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    尊敬的 Adam:

    SN74CBTLV3126仍有问题。
    我已经向客户提供了样片 TMUX1511。
    11月2日之后、我们将获得结果、因为下周是中国新年假期。

    BR
    Kevin
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    尊敬的所有人:
    客户更换 TMUX1511后问题得到解决。
    您能提供解释吗?
    终端客户想要知道原因。

    BR
    Kevin
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    Kevin、

    我需要您的帮助来 确定根本原因 、以便提供 TMUX1511器件解决问题的原因说明。

    1) 1)我们是否知道 这是 SN74CBTLV3126的隔离式器件缺陷还是器件损坏?   您的系统中有多少部件发生故障、有多少部件成功?   获取故障 电路板的一部分并将其放置在通过电路板上是否会导致故障?  

    2) 2)在两种情况下(成功/失败)、我都会测量 U5上示波器 TDI、TMS、TCK 上的信号、以验证上的电平和时序
    信号 upgrade_cld_cpu_MB 的上升沿、或仅使用跳线卡。  

    我还会使用新的 TMUX1511器件重复此测试、以比较信号、观察可能显示根本原因的差异。

    3) 3)我可以告诉您两个器件之间的一些差异、但我无法告诉您、如果不知道根本原因、这些差异是否是解决您问题的原因。  

    TMUX1511是一款具有电荷泵偏置栅极类型开关的 NFET。  该器 件具有较低的导通状态电容、从而支持更高的带宽、并将支持高于电源电压的 I/O 引脚上的信号电压。

    SN74CBTLV3126是一款 PFET 和 NFET 传输门类型开关。  该器件 支持 0到 Vcc 的信号。

    谢谢、

    Adam   

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。
    Kevin、

    您对此测试有更多信息吗? 您是否有根本原因的假设?

    谢谢、
    Adam
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    Kevin、

    我们一段时间内没有收到您的消息、因此我将假定您的问题已得到解决、并关闭此主题。 如果您有其他问题、您可以将其发布在此处以重新打开它们或启动新主题帖。

    谢谢、
    Adam