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[参考译文] RTOS/CC3220SF-LAUNCHXL:CC3220测试功耗相对较大

Guru**** 2567675 points
Other Parts Discussed in Thread: CC3120

请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/wireless-connectivity/wi-fi-group/wifi/f/wi-fi-forum/795503/rtos-cc3220sf-launchxl-cc3220-test-power-consumption-is-relatively-large

器件型号:CC3220SF-LAUNCHXL
主题中讨论的其他器件:CC3120

工具/软件:TI-RTOS

 E 制作了 eLock CC3220、遵循 CC3120、CC3220 SimpleLinkTmWi-FiRegistered互联网- On - A chipTM 网络子系统电源管理测试平均功耗、burn power_measurement。 UART 会打印数据并选择(始终连接电流、2000毫秒链接间隔)、根据490 UA 的平均功耗以及文档中有关200 UA 的数据进行测量、如下所示

始终保持连接的电流、500ms 链路间隔、实际测试功耗如下

测试平台和测试开发板的信息如下

您能否帮助我检查设置或测试方法是否有任何问题? 谢谢你

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。
    您好、Allen、

    请参阅 CC3220电源管理应用手册 的第2节:www.ti.com/.../swra502c.pdf
    这将有助于确保您所测量的跳线配置和引脚根据您选择的测量工具正确无误。

    谢谢、
    Alexis
  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    非常感谢您的回复、但我们已经阅读了该文档并根据上述说明对其进行了测试。 您能不能帮助我指出我的配置和操作有问题吗?非常感谢!

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。
    您好、Allen、

    您能描述一下您的测试设置以及如何进行测量吗? 很难从图片中分辨。


    谢谢、
    Alexis
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    艾伦

    电源管理应用手册(www.ti.com/.../swra502c.pdf)中的表4 显示、平均电流消耗为200uA/2000ms 睡眠间隔。

    我相信、您测量的500uA 电流以及在图片中显示的是器件运行 power_measurement 示例时随时间推移的平均功耗。 请参阅第2.5.2.3节。

    此外、在评估 CC3220的低功耗模式时、
    1) 1)请记住、AP 的 DTIM 间隔可能会影响器件的睡眠间隔(表3)
    2) 2)在 LP 上使用 UART 和电压转换器将增加平均电流消耗。
    3) 3)当器件处于功能模式时、不需要 SOP 上拉。

    -Seong

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    测试步骤如下:
    正在燃烧 POWER_measurement。 CC3220 LaunchPad 中
    2、拆下跳线 J19
    3.连接电流测试设备
    4、连接 USB 电缆并打开 CC3220 LaunchPad
    5. UART 打印出数据,选择5 (对于始终连接),在第二部分选择2 (对于 LSI),在第三部分选择2000msec。
    测试结果的平均电流约为500微安、指导文档的平均电流超过200微安
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    艾伦

    会影响电流消耗的因素有很多、例如您的 AP 和测试设置所在的环境。 进行实验的最佳环境是在屏蔽室或信号流量最小的房间内。

    在始终连接模式下、器件处于 LPDS 状态并唤醒以接收数据包、因此将出现135uA 和50mA 的波动。 因此、我首先要验证的是 LSI 期间的 LPDS 电流。

    我建议执行的另外两个步骤是:

    1)修改代码、以便 power_measurement 示例自动将器件置于始终保持连接模式(LSI、2000ms)、而无需用户输入。 这样就无需使用 UART、然后您可以移除所有隔离块跳线。

    2) 2)并在您刷写上述修改后的代码后、移除 LP 图片中显示的 SOP 上拉跳线。 器件将在功能模式下引导、SOP 配置为000。

    请告诉我这对您的测量有何影响。

    BR、