[参考译文] CC2652P：低温测试期间的 NV 损坏(电池供电)

您好、Shuyang、

我们已在项目中添加30秒更新 NV 项目功能、以加快问题的再次发生。

其中一个设备出现了相同的问题。
从异常固件的 NV 页上的信息可以看出、第一 NV 页上的最后一项缺少项目 HDR、但上次存储的 NV 项目有效、但此时无法启动器件。

e2e.ti.com/.../DW_5F00_fwBroken_5F00_writeNvTest_5F00_20210701_5F00_1.zip

谢谢、

Howjie

低电压检测方法将导致 器件在低电压阈值前后的行为不一致、这不是客户期望看到的。
此操作可用作替代方法。

是否有更好的方法来解决这个问题？

谢谢、

Howjie

[引用 userid="472484" URL"~/support/wireless-connectivity/zigbee-thread-group/zigbee-and-thread/f/zigbee-thread-forum/1014655/cc2652p-nv-corruption-during-low-temperature-test-battery-powered/3749806 #3749806"]低电压检测方法会导致 器件在低电压阈值前后的行为不一致

您是否已经测试过此解决方案？   从低电压阈值恢复的异常影响是什么？恢复后是否可以复位器件以改善行为？

NVOCMP_initNvApi 仅返回成功或特定故障代码、但不会确定哪个特定 NV 项目已损坏。  由于未提供此级别的解析/检测、您可能需要通过 重新初始化(预防步骤、如果已创建、则应返回成功)并读取每个 NV 项目以检测是否存在错误、从而进一步确定正确的操作过程。

此致、
Ryan

如果 NV 系统支持异常数据修复、那么这当然是最佳解决方案。
根据 NV 相关文档或注释、NV 系统旨在支持这些例外维修。

我们已经尝试启用低电压检测、但还没有测试结果。

根据我们的理解、启用低电压检测后、器件的行为将因该功能而不一致。
假设低电池阈值为2000mV、当电池电压值大于2000mV 时、器件可以将数据存储在 nV 中、例如帧计数器、通道和 panid 等关键信息。
当检测到电压低于2000mV 时、由于无法进行数据存储、与这些关键信息相关的操作将导致设备异常工作。

此外，方案的效力可能受到下列因素的影响：
1.在不同的制造商或环境温度下，按钮电池的放电曲线是截然不同的；
2.电池电压检测算法；
3.当电池电量低时，按钮电池的电压极不稳定，以及在长时间耗时的非易失性运行期间是否仍然存在风险。

当然、我们可以在此解决方案中设置更高的阈值。 当电池电压低于此阈值时、直接让程序进入 while (1)、直到电池电量耗尽。

谢谢、

Howjie

您的应用需要多久更新一次 NV 存储器？  大多数低功耗终端节点在调试期间存储网络信息、之后很少需要更改或修改存储的 NV 设置。  谨慎地实施低电池故障预防方法。

此致、
Ryan