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[参考译文] OAD 分区异常

Guru**** 1127450 points
Other Parts Discussed in Thread: CC2650
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/wireless-connectivity/zigbee-thread-group/zigbee-and-thread/f/zigbee-thread-forum/1270764/oad-partition-abnormality

主题中讨论的其他器件:CC2650

大家好!

我有数千件产品已售出。

遇到此问题时才使用。

描述如下:

1、我已使用 OAD 实施 OTA 以更新固件。 (内部闪存)

2 μ s 我、了该失败的 cc2650闪存。 (从我的客户处返回)

与、闪存相比3 μ s。

4、我发现 OAD 分区的差异。 (地址:0x0 ~ 0x00b18)
   

该器件最初工作正常。

使用几天之后、并且没有 OTA 更新固件。

此器件突然停止工作。

我迷路了。

我的固件应该无法修改 OAD 分区的内容、对吧?

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    尊敬的郭先生:

     用于 CC2650的 ZStack_home_1_02_02a_44539软件不包含 OAD 解决方案、因此我假设您是单独开发的 OAD 代码。  在不了解应用程序的情况下、可能存在损坏的闪存写入命令或在故障超过时钟周期之前支持的闪存擦除周期。  请注意对于每个实例、一到四位是如何翻转的。

    此致、
    瑞安

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    感谢您的答复。

    您的意思是 ZStack 1.2.2a SDK 不支持 OAD 吗?

    用户如何通过 OTA 更新固件?

    它们都是由自己开发的吗?

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    OAD 是软件任务。 Ryan 只是想告诉您、TI ZStack_home_1_02a_44539软件不提供 Zigbee OAD 示例、但您仍然可以自行实现。

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    谢谢、我理解。

    最新信息。

     在此之前、我的客户测量了该器件的功耗。

    测量功率是否有可能导致闪存数据异常?

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    基本上、您可以在应用程序进行闪存写入之前使用 ADC 来检查 VDD 对于闪存写入是否足够好。

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    电源波动肯定会导致器件意外关断、同时主动执行 NV 闪存写入、可能损坏闪存。  这就是为什么 SimpleLink CC13X2/CC26X2器件上的现代解决方案实现了一项功能、该功能会测量电源以确认其在写入 NV 存储器之前高于阈值(通常至少为2000mV)。

    此致、
    瑞安