Other Parts Discussed in Thread: C2000WARE
测试英文论坛e2e.ti.com/.../3087167 下的USB_Bulk_Stress_Test时,上位机vs 2022报:无法打开源文件“lmusbdll.h”。请问是什么原因?
This thread has been locked.
If you have a related question, please click the "Ask a related question" button in the top right corner. The newly created question will be automatically linked to this question.
测试英文论坛e2e.ti.com/.../3087167 下的USB_Bulk_Stress_Test时,上位机vs 2022报:无法打开源文件“lmusbdll.h”。请问是什么原因?
你好,抱歉对这个程序不太了解。
不过TI有提供其他的usb bulk例程,你可以看一下这个路径下的:C:\ti\c2000\C2000Ware_4_00_00_00\utilities\tools\f2837xd\usb_bulk_example
这个是VC程序,是用来在PC端测试F2837xD的USB程序的,用户只需要运行release文件夹下编译好的exe程序就可以了,不用再重新编译一遍。