像2808/28335这样的器件datahseet中都给出了ADC的ENOB=10.9位，SINAD=67.5dB，这两个是一回事，给一个即可，公式：SINAD=6.02*ENOB+1.76
但是28035和28069的datasheet中没有标这两个数据，请问一下实际数据大概是多少？能不能到10位？
我实际测试发现28069的ADC跳动很大，测试方法如下：
ADC配置为：CLKDIV2EN=1选择45M时钟，ADCNONOVERLAP=1关闭OVERLAP模式，Sample和Convert独立。
ADCREFSEL=0选择内部Bandgap，3.3V供电使用LDO
使用某个SOC通道采样1.5V干电池电压，ACQPS=6，电池电压短时间内可以认为是恒定的，内阻足够低，并且排除纹波等干扰情况。
使用ePWM1触发AD转换，6.4k采样率，即1s采样6400个数据，统计这6400个数据的最大值和最小值，计算最大值和最小值偏差，偏差1s更新一次。
实际测试发现：
实际1.5V干电池的电压1秒的短时间内是非常稳定的，也没有纹波，但是28069的ADC采样跳动仍然超过20个LSB，大部分时间在24个LSB。
尝试将对应SOC的ACQPS设置为44，跳动仍然超过20个LSB，没有影响。
同样的方法在28335上测试，采样值的跳动只有10~12之间，比28069要小一半。
同一块板卡上的AD7606采样，同样的一节干电池电压，0x14B0，从数据看也就是最后一位偶尔跳动，1秒内的最大和最小值偏差在1到3个LSB之间，大部分时间是2个LSB，偶尔会有3个LSB。
软件初始化时调用过ADC_cal函数，也调用过AdcOffsetSelfCal来校正offset error。为何采样值跳动还是这么大？超过20个LSB。
造成这个采样值跳动的大概原因是什么呢？INL还是gain error？还是offset error？主要受哪个指标影响的？
我理解的INL应该关系不大，因为干电池电压确定，采样点是确定的，和线性度关系不是很大。
gain error似乎关系也不大，同样是因为干电池电压确定，采样点是确定的。至于基准温度漂移之类也没什么关系，1秒的时间内温度几乎不可能有变化。
那么就剩offset error了，我只在上电以后调用AdcOffsetSelfCal校正了一次offset error，文档中提到周期性校正，但是没找到具体实例，这个offset error变化的速率大概多少？如果1秒内没有变化，那么应该不会对我的测试结果有影响。
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