在使用内置ADCC进行采样转换的时候,一共使用了8个通道输入,最后采样电压快速变化上升的时候,发现寄存器读出来的值,存在波动,正常的采样应该是这样子的
。在更换了ADC的SOC通道(将ADC_SOC_NUMBER8,改成ADC_SOC_NUMBER10)次序的时候,发现该异常可以修复,但是又导致了,另外一个ADC的转换通道的数据出现该异常,
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在使用内置ADCC进行采样转换的时候,一共使用了8个通道输入,最后采样电压快速变化上升的时候,发现寄存器读出来的值,存在波动,正常的采样应该是这样子的
。在更换了ADC的SOC通道(将ADC_SOC_NUMBER8,改成ADC_SOC_NUMBER10)次序的时候,发现该异常可以修复,但是又导致了,另外一个ADC的转换通道的数据出现该异常,
可以。ADCC的转换通道一共用了8个:
ADC_CH_ADCIN2-------------------------------------ADC_SOC_NUMBER2;
ADC_CH_ADCIN5------------------------------------ADC_SOC_NUMBER10(有明显问题)
ADC_CH_ADCIN4------------------------------------ADC_SOC_NUMBER4
ADC_CH_ADCIN8------------------------------------ADC_SOC_NUMBER5 (8)(有明显问题)
ADC_CH_ADCIN14-----------------------------------ADC_SOC_NUMBER6
ADC_CH_ADCIN0--------------------------------------ADC_SOC_NUMBER0
ADC_CH_ADCIN1---------------------------------------ADC_SOC_NUMBER1
ADC_CH_ADCIN3--------------------------------------ADC_SOC_NUMBER0
原本的计划是使用ADCINC(n)对应ADC_SOC_NUMBER(n)的,但是出现了这些转换通道明显异常,因此只能不断调整SOC的次序,调整过后,转换偏差没有那么大,但是还是存在,正如前面发的图片