问题描述:测试一款主控芯片为TMS320F2837xS的光伏逆变器发现,使用外部插件晶振对其他的一个功能模块造成明显影响。
测试说明:软件修改使用外部INTOSC1晶振之后 对其他的一个功能模块的影响大幅降低。
我的问题:担心使用内部晶振有潜在风险,TMS320F2837xS使用外部晶振和内部晶振有什么差异吗?使用内部晶振是否存在其他风险?
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问题描述:测试一款主控芯片为TMS320F2837xS的光伏逆变器发现,使用外部插件晶振对其他的一个功能模块造成明显影响。
测试说明:软件修改使用外部INTOSC1晶振之后 对其他的一个功能模块的影响大幅降低。
我的问题:担心使用内部晶振有潜在风险,TMS320F2837xS使用外部晶振和内部晶振有什么差异吗?使用内部晶振是否存在其他风险?
不太清楚你说的是什么情况,建议按照datasheet来
TMS320F2837xS Real-Time Microcontrollers datasheet (Rev. K)
另外也可以参考下TRM和ERRATA:
TMS320F2837xS Real-Time Microcontrollers Technical Reference Manual (Rev. H)