大家好!LZ最近在做一个实时位置控制的case。
其中28335片内AD采样是这样做的:
在定采样周期中断触发后,对同一通道(先不做控制,被测量是静态不变化的)不间断连续采集多个值(CONV都设为同一通道,一次顺序采集)后,去掉最大和最小,再均值。
发现这样得到的平均值结果,其跳码幅度较大,有3~4个毫伏之多。(测量的量是在开发板上的电阻分压电路,adc时钟降到12.5MHz,采样窗口开最大到0xf)
而换成定周期触发AD采样一次仅一个值,多周期后求平均,这时的结果就能稳定在1个毫伏的变化内。(ADC时钟25MHz)
这样我是猜想AD对某一通道不间断连续采样是不是会对采样值带来干扰?为什么会有干扰?
想减轻这样的干扰,除了增加对某一通道连续采样的间隔时间,还有什么好方法?(毕竟实时控制下,ADC能兼顾速度和精度是最好了)加一级电压跟随可不可行?
LZ知道28335ADC的12位精度实际是达不到的,多大的跳码幅度属于正常?
希望各位大侠解答我的疑问