您好,
我们在一款充电机产品的高温测试时遇到一个问题,系统运行一段时间后,F280049的CAN报文停发,且无法恢复。检查后发现芯片的外部晶振输入引脚X1电平保持为低电平,晶振未工作,XRSn引脚电平每隔16.8ms拉低一次再拉高。更换F280049芯片后系统恢复正常;
外部供电3.3V,VDD 1.2V均稳定无波动,我们无法定位芯片的晶振输入引脚损坏的原因,请帮忙分析,多谢!
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我们在一款充电机产品的高温测试时遇到一个问题,系统运行一段时间后,F280049的CAN报文停发,且无法恢复。检查后发现芯片的外部晶振输入引脚X1电平保持为低电平,晶振未工作,XRSn引脚电平每隔16.8ms拉低一次再拉高。更换F280049芯片后系统恢复正常;
外部供电3.3V,VDD 1.2V均稳定无波动,我们无法定位芯片的晶振输入引脚损坏的原因,请帮忙分析,多谢!