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TMS320F2800157: 烧录器

Part Number: TMS320F2800157

你好,我将代码由xds200烧录,切换为xds110烧录进开发板,会出现报错,The value i '-235',The title is 'SC_ERR_PATH_DR_BROKEN'

  • 上面的报错是ccxml里的,直接debug报错Error -2131

  • 已经收到了您的案例,调查需要些时间,感谢您的耐心等待。

  • 您好,

          对于(Error -2131),请参考C2000Tm MCU JTAG 连接调试 (Rev. C)

  • Test connect未通过,显示The value i '-233',The title is 'SC_ERR_PATH_DR_BROKEN',我看了下 '-233'调试步骤,其指出是由于未正确连接/信号质量不佳引起的,和我这边似乎不太一样,我这边xds110的代码可以烧录进开发板,修改成xds200可以烧录进pcb板,然后我要返回开发板调试,将其修改回xds110,Test connec就无法通过了,我试了三次上述流程均如此。

  • 由可烧录的xds110配置改为xds200,再改回xds110,Test connect多次,结果均不通过,但报告不同,‘-235’,‘-232’,‘-230’等等,我有点迷茫了。

  • 您好,

          SC_ERR_PATH_DR_BROKEN错误 - 基本上您的连接通过基本的通信测试

         这通常硬件损坏有关的问题检查电路板上的 JTAG 硬件连接          

  • 您好,这个报错是开发板上出现的,初始代码是可烧录的,ccxml的connection为xds110 USB,将connction修改为XDS2xx USB,Save Connection,再将connction修改为xds110 USB,就会出现连接失败的问题,我这边只够买了xds200的烧录器,在开发板和PCB板之间经常要来回切换。

  • 我刚刚量了一下硬件连接是通的,另外 初始xds110的代码均为可烧录的,由xds110修改为xds2xx再修改为xds110后,不可烧录,出现上述的连接问题。

  • 您好,

        .ccxml文件定义了对应的调试探针的类型,如果您想xds110和xds200反复切换,需要使用不通的  .ccxml文件。

        Debugging with Multiple XDS Debug Probes

  • 好的,感谢您的支持,我这边问题已经解决了,您发的链接应该是针对同时使用多个烧录器时的配置,若同一时间只使用一个烧录器,如我遇到的xds110和xds200反复切换,需要分别配置对应的.ccxml文件,且由xds110切换到xds200时,若提示‘-233’,芯片断电再上电可以解决。