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本人使用的是TMS570LS1224进行设计，用FEE模块进行调试参数（功能码）的存储，代替之前产品中的外部EEPROM。但是，在产品开发中，测试部提出一个问题，“有没有一种方法可以人为让FEE模块读写失败？”，类似于外部EEPROM，短接SDA与SCL可以使得外部EEPROM读写不成功。这样的话，可以测试FEE模块出现读写失败后，故障处理机制是否完善，能否满足产品的安全性要求，因为一旦调试参数读写错误，会影响整个产品的运行。
求指点，谢谢！
FEE是的是Flash模拟EEPROM，你用FEE去操作那部分存储区域时，它是在系统内部的，不像你以往用的外部EEPROM 的操作。
对于这部分memory读写的检测是，建议可以参考ECC的错误插入检测机制来测试。
谢谢
TI_FEE_MainFunction（） 这个函数是什么意思 我一直没搞明白
