此前我曾经咨询过有关IAP升级的问题,根据此前帖子,我按照当时回复进行操作,即IAP使用默认的0xFF80-0xFFFF的中断向量区间,APP使能RAM的中断向量区间(0x3b80-0x3bff),我使用的iar进行编写,xcl文件中我避开了3b80-3bff区间,我将IAP和app不断电烧录到芯片中,程序能够正常跳转。但我一掉电,就无法正常跳转至app了,根据我的分析与测试,发现掉电后RAM区间的值变为了随机值,3b80-3bff这个区间的值不在是app的中断向量导致无法正常跳转,请问这个问题如何解决,由于系统架构原因我不能使用bsl的方式进行程序升级。