我使用MSP430G2553 和 RO_PINOSC_TA0_WDTp 方法进行触摸检测，遇到如下问题；
SMCLK 设置为1MHZ 对于一个固定的电容变化量，TA0CCR1 测量值的变化很小，变化幅度大约是在5%。
SMCLK 设置为125KHZ 相同的一个电容变化量，TA0CCR1测量值的变化很大，变化幅度大约在70%。
根据测量原理来看，测量窗口时间变小，那么TA0计数的基数随着变小但不会影响变化的幅度（这是我个人的理解不知道是否正确）。
有谁知道这是为什么吗？
【使用的硬件环境是msp430launchpad V1.5 开发环境是IAR】