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msp430F2132 32K晶振在强电磁环境下受干扰出错

Harris Ren
Intellectual 371 points


产品(无线测温)应用在强电磁环境(高压开关柜)下，电池供电，需进入低功耗模式，现用低功耗模式LPM3，此模式需用到外部32K晶振，外部32K晶振在强电磁干扰下出错，现象如下：

1. 平时工作正常，放在开关柜内，通上高压，工作不正常(无线通信中断)

2. 不用外部32K晶振，放在开关柜内，通上高压，工作正常

3. 32K晶振使用内部负载电容，负载电容选为1pF时，效果好一些，但时好时坏

请各路高人帮忙解惑，多谢了先！

  • 0
    Expert 1858 points
    你好。 虽然当前种种现象表征32k出了问题。但是最好再进一步确认问题的根源。有时候问题的引发是多方面的，过早下结论容易引入错误方向。 比如：1.出现问题后系统处于什么样的状态，关掉控电柜后能否再次通讯上。 2.关闭低功耗模式，判断问题是否依旧。 3.用日志记录晶振停振事件，可以帮助分析问题出现的细节。 4.采用其他类型含有32k的实验电路板放于同样位置，是否发生同样现象。 如果多种实验都指向电磁兼容问题导致32k停振，也可采取一下措施： 1.增加外部屏蔽，注意屏蔽层与电路GND的隔离问题。 2.尽量减小32k晶振与单片机距离 3.晶振走线周围用地包裹。晶振放倒，晶振外壳底部铺地并去除绿油，与晶振外壳焊接。 4.更换柱型晶振，使用电磁兼容更高些的贴片晶振。
  • 0 回复 Felix Jiang
    Intellectual 371 points

        非常感谢！你说的很对，是不能轻下结论：

        1. 我在timer里做了个LED闪烁，出现问题时LED等不受控，有时常亮有时灭有时乱闪，timer时钟源用的是外部32K晶振，可判断timer或IO出问题，关掉控电柜后可以再次通讯上

        2. 没试过关闭低功耗模式，但试过只使用内部时钟，使用内部时钟没问题

        3. 用日志记录晶振停振事件？不好意思，不太明白

        4. 没试过其他类型的电路板，不过同样的电路改了三次板，第一板PCB没铺地，有问题，第二板PCB铺地，晶振内部负载电容改为1pF时有较大改善，只是偶尔通讯中断，负载电容改为其他值无效果，第三板PCB铺地，晶振外壳放倒接地，板子今天刚到，目前还没中断，在测试中

        措施中：

        1. 晶振外壳接地是否起屏蔽作用，加屏蔽罩的话好像要接地的吧？怎么隔离？

        2. 晶振与芯片引脚距离已较小

        3. PCB已铺地晶振是否还需要包地？现在版本晶振外壳已放倒接地

        4. 还有问题的话可考虑换贴片晶振

        晶振负载电容好像主要影响晶振的频率，不知道改电容为什么对抗干扰起那么大效果

         Thank you again for you reply ！

  • 0 回复 Felix Jiang
    Intellectual 371 points

        最新PCB板目前还能测出通讯中断现象，不过没那么频繁，现在做的是10s唤醒一次发射数据，几次中有一次丢数据现象

  • 0 回复 Harris Ren
    TI__Mastermind 18838 points

    你好，

    我有一个建议：

    不知道你使用的是外部电容还是片内电容。

    建议使用外部电容，推荐值在15pf左右，你可以做一个实验。

  • 0 回复 kqian0327
    Intellectual 371 points

    谢谢，我用的是内部电容1pF，我用外部电容15pF试一下，之前试过6pF的外部电容不行，内部电容好像关不掉的，设为多少pF比较合适？

  • 0 回复 kqian0327
    Intellectual 371 points

    刚试了，外部15pF，内部1pF，没有效果