用MSP430F5148A做的产品，在ESD测试时USB口接触放电1KV系统就复位，复位原因是在ESD测试时，程序检测到晶振振荡异常而导致的软件复位，若关闭软件复位，则现象为程序跑的很慢，原来系统时钟已经由外部的8M跳转至32.768K去了。USB口已经有加静电防护器件，外部晶振也已经非常靠近MCU并用地线进行环绕保护，为双面板；但是MCU下面没有太多走线，且已铺铜和MCU的四边的4个地相连，VDD和AVcc通过磁珠相连，数字地和模拟地也通过磁珠相连。请问为什么系统这样不稳定呢？接触放电1KV就挂了。
请问应该如何布局走线才能提供ESD性能?
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