CC1110 ADC测试电路分压电阻问题

在项目的功能里面需要测试电池充电电压的情况，采用电阻分压的方式，接入CC1110的P05口，进行测试。

驱动程序部分测试过了，没有问题。

现在遇到的情况是试了电池正端接1M，200K电阻分压，200K接地，测试200K上的电压，发现万用表实测值是CC测试值的1.5倍左右，如果把电阻加大，倍数还会继续扩大。

我的问题是：

当P0的IO口作为ADC检测的时候，芯片内部的电路是怎么样的？

在使用ADC测试的时候，外部分压电阻有什么要求？

这里还涉及到一个低待机功耗的问题，所以会尽量让分压电阻大一些。