各位老师，在学习28M35，调试过程中与到这样一个问题。
背景交代：
在使用控制器进行强电调试的时候，强电上电瞬间可能会导致JTAG掉线，这样将无法用CCS读取存储在数组中的实验数据。先前使用28335进行调试的时候（本文所述调试，程序均在Flash运行），可以先断开仿真器连接（Disconnect target），实验完成后再重新连接（Connect target），这样在变量观察栏里面依旧可以读到各个变量的数据，并用绘图功能画出曲线。当然，在重新连接之后，程序是处于暂停状态的，当点击开始运行后，程序复位，从头开始运行。
遇到的问题：
在使用28M35调试的时候，这种办法不成立了。当单核调试C28内核时，断开连接后再重新连接，变量观察栏里的变量全都复位了。并且，点击运行开始后，程序也不运行了。如果是使用“load symbol”，点击运行开始后，程序也不运行了。
退一步讲，用“笨办法”，刷Flash，在28335里面，当程序在Flash里面跑的时候，在不掉电的情况下烧写程序，RAM里的数据是不会改变的，这样，在掉线后也可以通过重新烧写一遍Flash让程序复位，这时候的RAM数据是保存着的。
在28M35里面，这一点也做不到了。比如程序运行着，进行以下操作：断开仿真器连接；重新连接；烧写Flash，之后变量也全都复位了。只有在程序运行期间直接强行重新烧Flash才可以保留RAM里面的数据。
综上所述，感觉28M35的C28核在调试中与28335的C28核有很多不同，受到了很多的限制，并且很容易RAM复位。
所以想请问一下，有没有针对以上现象的解决办法，或者有没有解决强电调试中掉线后实验数据存储的更好方法？
谢谢
