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RM57L843: 关于ESM和诊断库函数配合的问题

Part Number: RM57L843

你好,针对上一次那个问题,我还是有一些疑惑,就是ESM只有一个nError输出引脚,如果同时有多个错误产生,怎么判断是谁出现了问题。是不是这时候就需要用诊断库各模块的API来测试是哪一部分出了问题是吗。另外对于可修正的1-bit ECC 错误,是它自动修复,还是说得通过调用其对应的诊断API来进行1位纠错。这个诊断API的返回值(TRUE/FALSE)指的是成功测试与否,还是出现问题与否呢。

  • 您好,我们已收到您的问题并升级到英文论坛,如有答复将尽快回复您。谢谢!

    https://e2echina.ti.com/support/microcontrollers/other/f/other-microcontrollers-forum/214998/rm57l843-esm

    您指的是这个问题是的吧?我们目前还在帮您跟进,最近工程师外出了所以可能会晚点给您答复。

  • 就是ESM只有一个nError输出引脚,如果同时有多个错误产生,怎么判断是谁出现了问题。是不是这时候就需要用诊断库各模块的API来测试是哪一部分出了问题是吗。

    ESM 通道分为三组。 group 1 通道被认为是low severity。

    group1 错误具有可配置的中断响应和可配置的 ERROR pin behavior.。

    group 2 通道具有ERROR high severity。 group 2 错误始终在错误引脚上生成高优先级中断和输出。

    group 3 通道不会生成中断,但会始终生成错误引脚输出。

    您需要检查 ESM 状态寄存器以确定设置了哪些flags。

    另外对于可修正的1-bit ECC 错误,是它自动修复,还是说得通过调用其对应的诊断API来进行1位纠错。

    SRAM和Flash受SECDED保护,对于1-bit ECC error,会自动修复。

    这个诊断API的返回值(TRUE/FALSE)指的是成功测试与否,还是出现问题与否呢。

    API 的最后一个参数 (SL_Selftest_SRAM () 和 SL_Selftest_Flash ()) 是测试结果和测试状态。

    boolean SL_SelfTest_SRAM(SL_SelfTestType testType, boolean bMode, SL_SelfTest_Result* sram_stResult);

    boolean SL_SelfTest_Flash (SL_SelfTestType testType, boolean bMode, SL_SelfTest_Result* flash_stResult);