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你好。
我在使用RM44L520芯片时出现了问题，在使用TI提供的diagLib诊断库时，在sys_startup.c中调用SL_SelfTest_PBIST对所有TCMRAM进行自检时，自检完成后会覆盖所有的栈数据，因此在此函数return时，使用POP指令出栈就会进入abort异常。 请问一下，这个问题是否正常，应该怎么处理？
您好，您的问题我们需要升级到英文论坛看下，有答复尽快给到您。
您好，
user4724084 说：请问一下，这个问题是否正常，
这个是正常的，PBIST 通常在器件启动时运行，因为它是一个破坏性测试，并且在测试期间被测试的 SRAM 模块的所有内容会被覆盖。 SRAM 分为多个组，您可以将数据和指令放在一个 SRAM 组中，并测试其他 SRAM 组。
当您在 MCU SRAM 上执行 PBIST 时，堆栈区域中的内容也将丢失。 这就是为什么在 HALCoGen 生成的 c_int00 ()中执行 SRAM pbist 测试的原因。
如果在启动期间对 SRAM 执行 PBIST，那么则无需将 SRAM 内容保存到其他位置，因为它不包含任何有用的数据(刚刚初始化)。 如果您对 SRAM 执行定期 pbist 测试，那么就需要在开始测试之前保存 SRAM 内容。
更多详细信息可以参阅下以下帖子：
https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/arm-based-microcontrollers-group/arm-based-microcontrollers/f/arm-based-microcontrollers-forum/608569/rm46l430-safety-manual-states-that-ram7a-ram7b-are-covered-by-sl_selftest_pbist-but-sl_selftest_pbist-cannot-be-run-the-tcram-as-running-the-test-corrupts-the-c-runtime-system?tisearch=e2e-sitesearch&keymatch=%2522SL_SelfTest_PBIST%2522%2520AND%2520%2522stack%2522
https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/arm-based-microcontrollers-group/arm-based-microcontrollers/f/arm-based-microcontrollers-forum/1027417/tms570lc4357-internal-ram-memory-test-in-tms570lc4357/3810810?tisearch=e2e-sitesearch&keymatch=%252522SL_SelfTest_PBIST%252522%252520AND%252520%252522stack%252522#3810810
非常感谢您的回复。
我理解了您的意思，但是我正是在c_int00 ()中执行 SRAM pbist 出现的问题。使用的是TI提供的诊断库自带的sys_startup.c文件，而不是halcogen生成的文件。
void afterSTC(void) { SL_CCMR4F_FailInfo failInfoCCMR4F; /* CCMR4 Self Test fail info */ volatile boolean retVal; /* For function return values */ SL_PBIST_FailInfo failInfoPBISTSRAM; /* PBIST Failure information for TCM RAM */ SL_SelfTest_Result failInfoFlash; /* Flash Self test failure information */ SL_SelfTest_Result failInfoTCMRAM; /* TCM RAM Failure information */ SL_PBIST_FailInfo failInfoPBISTOthers;/* PBIST Failure information for non-TCM memories */ SL_EFuse_Config stConfigEFuse; /* EFuse self test configuration */ ...... ...... retVal = SL_SelfTest_PBIST( PBIST_EXECUTE, /* Execute PBIST test */ (PBIST_RAMGROUP_06_ESRAM1 | PBIST_RAMGROUP_21_ESRAM5), /* On all TCM RAMs */ PBISTALGO_MARCH13N_RED_1PORT); while (TRUE != SL_SelfTest_WaitCompletion_PBIST()) { } ...... ...... }
如上面的代码，在调用SL_SelfTest_PBIST时，自然产生了压栈和出栈操作，这与halcogen自动生成的代码并不一致。
所以产生如下问题：
1：TI提供的诊断库代码是否有问题？
2：为什么在debug调试时会在SL_SelfTest_PBIST函数返回时出栈故障进入abort，但在release全速运行时，又能正常进入main？
期待您的解惑。
抱歉回复晚了。
在执行 pbist 测试之前，您有没有将任何指令和数据放入 SRAM？ 是abort Data abort还是prefetch abort？
CP15数据故障状态寄存器和指令故障状态寄存器中的故障状态是什么？
在 RELEASE 模式下要使用不同的优化级别。 您是否发现 pbist 自检函数中的哪条指令(反汇编)导致了中止？
