Part Number: LMG3411R150
Other Parts Discussed in Thread: TIDA-00915
按照官方给的TIDA-00915设计方案，设计的1.2KW驱动电路，目前测试遇到以下几个问题。
整体设计架构：驱动板（六路GaN）-->排针-->控制板（隔离芯片+MCU）
1、低压测试：驱动板功低压48V开环测试电机可以正常运行（程序屏蔽了FAULT信号的输入），FAULT信号一直会叠加干扰信号，将排针上的FAULT信号断开直接测试芯片引脚的FAULT信号已经叠加了干扰信号（干扰信号毛刺测试为控制信号的20KHz）。20KHz的控制信号隔离输出侧无异常。
2、高压测试：DC300V开环测试电机GaN芯片损坏，损坏原因可能是瞬时的直通造成的炸机，原因目前没有分析出来。测试死区时间是600nS。准备先50%的PWM测试高压信号波形是否正常。
