Other Parts Discussed in Thread: TLA431,
最近在使用ATL431BQDBZR芯片,产生2.5V 恒流源,但在测试恒流源的稳压VREF输出时,产生很大的震荡,造成测试电阻精度很大。电路如下图所示:
目前Cka电容C133未焊接,c128为10nf。R55为待测电阻。
图1 原理图
然后测试VREF和GND之间的波形,测试波形如下图所示
图2 RX电阻为1Ω-Vref vs Gnd
如上图所示,有326khz左右的干扰,且干扰幅度比较大,达到1v,示波器采用靠测方式,采用表笔自带的测试地。请问这是什么原因,c128未焊接,效果类似,都有干扰。
类似图1的原理图,一共生产了15块,大多数VREF对gnd的波形,如下图所示,
图3 测试基本正常的VREF vs GND波形图
问题:同样的电路,为何VREF vs gnd的干扰差异这么大。另外抑制这种干扰,有什么处理措施。基于以上现象,是否将ATL431换为TLA431效果会好一些。