最近在学习一些LDO稳定性的文章及调试中的一些问题,请教一下大家。对于需要输出电容的ESR来保持稳定性的LDO,比如LP2985为例,手册上说的,假如输出电容采用2.2UF,高温下容值下降到了1UF,2985会震荡。那么这个震荡是因为ESR也下降一半导致的吗?
1、根据ESR与损耗角正切的关系,是不是温度变化是损耗角正切是不变的?
2、对于瓷介电容,几个UF的自谐振频率都在1MHZ左右吧,那么ESR也是在这个频率附近最低。一般电容的测试,小于10UF的按照1KHZ频率进行测试的,那么,对于LDO的工作来说,我们应该关注多大的频率范围?因为加入在几十个KHZ频率一下,电容的ESR也比较高,即使ESR减半了也会远大于0.005欧姆。
3、看到一些经验文章说,对于内部采用双极性二极管的,对输出负载有要求,不能小于10MA,否则会引起震荡。对吗?
4、对于输出电容的PCB布局,加入离输出管脚超过了1CM,可能会引起震荡?
谢谢。