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关于TLC5917的锁存信号LE的控制时序

Other Parts Discussed in Thread: TLC5917

你好

我们以前使用的是CD4094的一个方案,:串行数据输入,并行同时输出驱动后续的电磁装置。近期我们把方案更改为TLC5917的,对比过两者的时序,感觉是OE信号以及LE信号(CD4094)在原来的基础上取反即可正常使用,但是实际中出现了电磁装置无法正常工作或不能稳定的情况。

仔细查看了一下TLC5917的官方Datasheet,关于Figure11以及下方的真值表,我们觉得,应该来讲,控制程序是可以正常工作才是,也用了逻辑分析仪对照了一下OE、LE、SDI与SDO的信号时序,感觉都正常,但是就是没有正常工作起来。

后面想到两点疑问,在此请给予指导回复一下:

1.是否LE与OE信号的电平高与低状态,是要通过clock的上升沿来判断的(好似原CD4094是不需要clock存在就可以检测到电平转换的);

2.我们原来的程序时序在TLC5917中的应用,相当于是:LE变高电平,然后开始SDI数据写,然后把LE置低进行锁存,再延时一段时间后,把OE信号使能:置低,来输出。这与你们技术文档时序图中送数据的时刻稍有不同,有没有这里存在出现错误的可能?