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UCC21520: SIC MOSFET关断时栅极震荡

Part Number: UCC21520

如图,双脉冲测试时,采用UCC21520芯片驱动SiC MOSFET,在关断时栅极电压会出现震荡,该震荡是什么引起的?使用1ED3UM12H芯片则不会出现该状况。粉色为主动管关断时波形,蓝色为被动管,可以看到主动管栅极震荡并引发被动管栅极震荡。f1dcec51a82f2fbe8a079248ab972522.jpg

  • 您好,收到了您的案例,调查需要些时间,感您的耐心等待。

  • 在双脉冲测试(DPT)期间,输出端出现振荡是正常现象。由于器件在有电流流过时被切换,这会导致硬切换——即在电流流动过程中,由于输出状态发生变化,电流路径会迅速改变。

    我很好奇为什么 1ED3UM12H 器件没有出现这种现象。我尝试搜索过该器件,但网上找不到任何相关信息。您知道哪里可以找到该器件的数据手册吗?我想查阅一下,看看该器件是否具备任何专门用于在 DPT 瞬态期间抑制噪声的特性。

  • 你好,可能是我没表述清楚,我说的振荡是指关断后红色圈内出现的两次振荡。另外芯片型号是1ED3124MU12H,我输入的有错误。最后附上两种芯片关断时栅极电压的对比。

  • Can you please provide more information about the board used in the double pulse test? Do you have a schematic, list of bias conditions, and any other test items such as switching frequency or temperature?