大家好。
现象：
目前在使用BQ25570时，在系统长时间老化测试中，部分产品出现LBUCK突然无输出现象，电池电压3.7V，LBUCK输出电压3.3V，供给系统使用，系统中MCU运行会锁定拉高BQ25570的Vout_EN，通过示波器跟踪抓拍，在LBUCK无输出时，由于后端有Cout存在，系统电压会慢慢下降，Vout_EN也会跟随Vout，当低于MCU工作电压时Vout_EN才被拉低，整个过程中Vout_EN均在规格书中给定的使能时门限值以上，从新手动拉高Vout_EN，系统可工作；同时采用BQ25570官方DEMO，通过更换电阻值，设定输出电压为3.3V，Vout_En通过跳线接到VSTOR，负载同样接到MCU板，测试有相同问题；
请问：
该想象应该什么问题导致的，有什么好的建议和意见；
另外发现，同时对问题板子测试发现，出现问题的频率跟Cout电容大小有一定关系，该电容越大，出现问题频率越高，在同一板子上，测试过0.1uF、0.1uF +10uF、0.1uF + 22uF、0.1uF + 47uF，后三种均会出现突然无输出问题，o.1uf时测试目前测试20多小时未出现；在DEMO板子上，若将Cout换成22uf，测试8-9小时或更长时间出现问题（时间不确定），若将Cout换成47uf，大约1-2小时就会出现该问题。
在规格书中（page 5）：Cout的推荐最小是10uf，典型值22uf，没有写最大值。
备注：
MCU板子无大容性和感性负载，仅有按键，显示，数传功能。平均功耗2mA，最大功耗20mA内；