您好，

        对于BQ34Z100-G1应用于铅酸电池容量测量，我想请教以下问题：

1.对于一组电池完成学习过程，即完成更新QMax和Ra table值。将量产芯片启用IT算法，应用于长期处于浮充状态（电流不为0）且极少放电的情况下，

电池容量的测量，随之电池使用时间增长，Ra table值内阻值能更新么，什么时候更新？

是否芯片一直保持的是学习过程完成时的Qmax和Ra table值？一年，三年或者五年之后内阻值相较于最初的状态肯定有变化，怎么保证之后测量一年，三年或者五年之后的容量测量准确度，是通过充放电过程么？

2.BQ34Z100-G1的健康值显示为预测的FCC/design capacity，这个健康值的更新，对于长期处于浮充状态（电流不为0，但是极小）且极少放电的情况，是不是没有效果？

BQ34Z100-G1怎么保证预测的FCC的值的准确呢？

期待您的回复，谢谢！