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Early life failure rate |
MTBF / FIT |
Early life failure rate supporting data |
MTBF / FIT supporting data |
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Part number |
ELFR-DPPM |
MTBF |
FIT |
Conf level (%) |
Test temp (°C) |
Sample size |
Fails |
Usage temp (°C) |
Conf level (%) |
Activation energy (eV) |
Test temp (°C) |
Test duration (hours) |
Sample size |
Fails |
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50 |
4.48x 10 9 |
0.2 |
60 |
125 |
18163 |
0 |
55 |
60.0 |
0.7 |
125 |
1000 |
52343 |
0 |
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各位好！有没有知道这个表中早期寿命失效率代表着什么？平均故障间隔时间又代表着什么？0.2FIT与芯片的基础失效率有什么样的关系？知道的能否告知，万分感谢！
