Q1、在计算Chemistry ID时，使用Battery management studio的logging功能记录数据，但在记录过程中多次出现error，都是No acknowledge from device，这是什么原因？是否影响最终Chemistry ID计算？
答：No acknowledge from device可能的原因包括通讯中断、多主机读同一I2C导致冲突等等。
如果数据缺失严重（比如缺少一分钟）则会影响ID计算。
Q2、在优化Learning cycle中，文献建议充电电流C/2，放电电流C/5。实际电路只能做到充电电流和放电电流大约C/10，这样是否可以？会不会影响学习后的精度？
答：如果放电只有0.1C的话太小。C/10以下、C/3以上都不合适。建议C/5左右。
Q3、在Learning cycle过程中，是否有必要使用Battery management studio的logging功能记录过程数据？我感觉好像Learning cycle过程就是芯片自己优化data flash寄存器的过程，记录数据是不是无用？
答：log数据是为了方便学习不成功时回头检查原因。
Q4、完成Learning cycle的目的是什么
答：Golden learning的目的是通过一两个电芯的学习更新QMAX和Ra table然后把这个结果制作一个golden image用于生产烧录到其它芯片里，其它芯片就不需要一一做golden learning了。
Q5、Chem ID计算的过程中，已经完成了电池的一个充放电过程，是否可以减少甚至取消Chem ID选择之后的Learning cycle过程了呢？
答：阻抗跟踪电量计开发流程：选择CHEM ID --> 配置参数 --> 校准 --> golden learning --> 导出量产文件golden image --> 生产（在产线上导入到其它新电池并校准、测试、复位、IT enable 、seal、出货等）。
所以learning cycle得到量产文件之后就是生产测试了。
Chem ID的充放电过程不能代替learning cycle的过程，两个过程是完全不同的。
Q6、请教一下，生产线上的产品每一个在programming烧录Golden Image后，还要重新校准，和修改data flash中的IT_Enable使能，最后再Sealed吗？
IT_Enable位能否在Golden Image中就使能好，再制作Golden Image呢，这样就不用每个单独使能了？
答：为保证精度，通常都要求每个板在烧录golden image后校准的，要考虑板间差异。
标准做法都是最后IT Enable, reset, sealed的。当然在golden image里enable IT的也有人这么做，但我觉得不会省事，因为在烧录时已经使能的话在接下来的测试的极端情况都可能会影响电量计量，并且记录在lifetime里，你还得在出厂前清一下lifetime；而且反正最后都要发reset和seal命令的，再发多一个IT Enable也不会增加多少工作量和工时。
