您好!
我们正在设计有个便携式设备,该设备需要通过CISPR 32 class B辐射发射测试。该设备采用了UCC12050进行电源隔离,在测试中出现EMI超标现象。
未用UCC12050进行隔离时,设备测试结果如下:
采用UCC12050进行隔离时,设备测试结果如下:
请问下,有什么方法可以减小该辐射发射。
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您好!
我们正在设计有个便携式设备,该设备需要通过CISPR 32 class B辐射发射测试。该设备采用了UCC12050进行电源隔离,在测试中出现EMI超标现象。
未用UCC12050进行隔离时,设备测试结果如下:
采用UCC12050进行隔离时,设备测试结果如下:
请问下,有什么方法可以减小该辐射发射。
HI
这个芯片本身就是低EMI设计,取决于芯片内部。
对于外部,你可以在输入输出都增加磁珠构成CLC, 应该可以进一步降低。