1,原理图check,另外板子的chrg_ok始终是低,不正常,满足文中提到的几个条件
2,CHRG_OK 始终低,同时升压的MOS会发烫。
3,应用条件及测试情况:
A,输入电压:5V到8V(调试)【正常是5--20V】
B,输出电压:REGN:5v左右。
C,无输出电压。
D,图片是第一PIN 是否OK?
E,原理图见附件6574.BQ25703.pdf
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1,原理图check,另外板子的chrg_ok始终是低,不正常,满足文中提到的几个条件
2,CHRG_OK 始终低,同时升压的MOS会发烫。
3,应用条件及测试情况:
A,输入电压:5V到8V(调试)【正常是5--20V】
B,输出电压:REGN:5v左右。
C,无输出电压。
D,图片是第一PIN 是否OK?
E,原理图见附件6574.BQ25703.pdf
您好,Please see the below FAQ for checklist.
https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/871078/faq-bq25710-bq25713-bq25713b-bq25700a-bq25703a-bq25708---schematic-review-design-tips
I noticed that the IADPT resistance is not correct. It should be 137k for 2.2 uH.
Boost MOS is hot may be indicative of a short somewhere in the design.
详细请参考下面链接的帖子跟进。
·我有一个方案 最近调试中遇到一个问题:charge 方案:BQ25703,Type-C方案侦测:fusb307
我在电池先开机后,再插 Type-C电源,看到充电时断时续。偶尔性的