我司生產過程中發現bmu_prim_uvp_delay“过放电保护延时时间”與bmu_prim_docp_delay“放电过流延迟时间”測試數據中數據分佈同時發現有兩個峰值,一個偏中值左,一個偏中值右;
我們對樣品進行了手動量測,發現手動測量跟設備實際測量測試是接近的,排除是設備環境因素影響;所以判斷是IC特性引起的。目前發現不止在一個項目上有這個現象;
所以請問一下,有什麼因素會引起保護時間延遲有兩個差異,一個偏中值下限,一個偏中值上線? 謝謝!
問題緊急,還請協助確認,謝謝!


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我司生產過程中發現bmu_prim_uvp_delay“过放电保护延时时间”與bmu_prim_docp_delay“放电过流延迟时间”測試數據中數據分佈同時發現有兩個峰值,一個偏中值左,一個偏中值右;
我們對樣品進行了手動量測,發現手動測量跟設備實際測量測試是接近的,排除是設備環境因素影響;所以判斷是IC特性引起的。目前發現不止在一個項目上有這個現象;
所以請問一下,有什麼因素會引起保護時間延遲有兩個差異,一個偏中值下限,一個偏中值上線? 謝謝!
問題緊急,還請協助確認,謝謝!


HI
官网上没有找到这款芯片,有可能是定制的,可以在美国E2E上问一下: https://e2e.ti.com/
就上面问题而言,一般时间上的控制,如果有外部电容设置,需要确认电容容值是否存在两个方向上的规格差异(偏上限,偏下限),可能原因一般是因为电容批次上的差异。
如果完全是由芯片造成的差异,也一般是芯片批次上的差异造成的。
但重点在于规格是否超出设计导致异常。