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LM63625DQPWPRQ1 外观测试以及刮擦测试失败是否影响使用?



您好,测试报告如附件,发现元器LM63625DQPWPRQ1件存在以下问题:
1)根据观察元器件的顶面有一层镀层。
2)在引脚 1 处发现了成型残留物。

3)样品的引线显示出氧化/变色/污染的早期迹象。

4)一个卷轴中不清晰的表面和不同的纹理,零件看起来像被重复镀层。
5)刮擦测试失败,刮擦后发现大多数残留物。
麻烦帮忙查看并回复上述问题是否属于TI正常工艺问题以及不影响实际使用,谢谢。

  • HI

       从描述上和照片上看,这些都应该是不影响芯片的使用的。

       但是有一点需要说明,建议你直接找TI购买,因为TI判定芯片的唯一保准是购货渠道。其他渠道购买芯片存在一定的风险,除非和你们有长期合作关系。