TPS54620: Buck电流检测leading-edge current spike的问题

HI

    尖峰电流并非体二极管反向回复导致的，一般是layout导致的，建议严格参照datasheet的layout以及说明来做，在datasheet第34~35页。

在这个资料上有提到这个尖刺的来源，在其他资料上也会叫leading-edge current spike，但是我没有找到详细解释这个现象的资料。

HI

   没有其他的详细资料，包括其他芯片。

   一般是通过layout来尽量较小这个noise，所以建议严格参照datasheet的layout以及说明来做。

Hi Johnsin,

我了解到的是通过采样的blanking time也可以消除这个噪声的影响，这项技术有在TI的device里使用吗？就像之前附的图片里说的，需要30-40ns的blanking time可以避免采样到这个noise。