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BQ76952: 单板调试过程中出现多种PF永久失效故障

Part Number: BQ76952


TI的技术支持人员:

我们团队使用多个BQ76952器件进行电源管理,目前正在进行原理机的调测。

如上所述,在器件上电后MCU与BQ76952通讯,使用0x12命令获取工作状态,发现 FUSE、PF、SS、SDM置位。

进一步通过0x0B、0x0D、0x0F、0x11命令查询PF寄存器,获取了如下失效状态:

电芯欠压永久失效

充电过流永久失效

放电过流永久失效

放电短路永久失效

放电欠温永久失效

内部过热永久失效

放电过热永久失效;

预充电超时永久失效

放电过流永久失效;

放电短路锁存永久失效。

复位后器件仍然处于此状态,无法清除。

或许此器件已经无法正常使用,但是我们想查清楚可能的原因,希望能够提供相关的技术支持。不胜感激。