• 状态
  • 已锁定 已锁定
  • 个回复 10 个回复
  • 名订阅用户 43 名订阅用户
  • 次查看 359 次查看
  • 用户 0 名在线用户
选项
选项
相关

This thread has been locked.

If you have a related question, please click the "Ask a related question" button in the top right corner. The newly created question will be automatically linked to this question.

UCC28780: 在空载模式下会在1小时~3天内出现5%左右的上MOS烧毁

?? ?
Prodigy 10 points
Part Number: UCC28780
Other Parts Discussed in Thread: UCC24612

我们使用UCC28780+Navitas GaN NV6115/NV6117+UCC24612设计，固定30V输出，最大输出功率70W。产品在生产后用输入240V，输出满载30V/2.34A的条件去做老化没有发现问题；但是如果在输出完全空载的条件下去做测试，产品会陆陆续续在1小时~3天内出现上MOS（NV6117）烧毁的现象，烧毁的MOS量测发现，多数有几欧到几百K的内阻，总不良率在5%左右。如果断电后重新再上电，仍然会有不良发生。

我们尝试在输出端加一个30mA的负载，同时在上MOS管NV6117的D、S之间并联一个47pF/1KV 0805的电容，用相同的条件测试7天，没有发现有上MOS烧毁的现象。

我们想了解，由于此设计已经通过了DOE VI的认证，在输出端加一个30mA的负载并不能满足认证的要求。是否TI有其它建议，可以改善这个问题？

  • 0
    TI__Guru**** 308311 points

    HI

        将电路传上来看看？

  • 0
    Prodigy 10 points

    你有邮箱？我私发给你看看？

  • 0 回复 ?? ?
    TI__Guru**** 308311 points

    HI

        不能附件上来吗？  

  • 0 回复 ?? ?
    TI__Guru**** 308311 points

    HI

        有些不太清晰，有没有确认RCD电路，以及MOS的电压电流波形？

  • 0 回复 Johnsin Tao
    Prodigy 10 points

    ACF的架构是将变压器的漏感能量回收，所以除了传统的下管外还增加了上管MOS，没有RCD。拍摄了小视频，分别有带载30mA、20mA与空载的上管DS波形，可以看出带载30mA时，上管的DS波形就很稳定了。这个与我们内部实验的结果一致，当带载30mA后去老化，没有发现不良；带载20mA或以下电流时上管有5%的几率会烧。

    链接：pan.baidu.com/.../1SnvHM0Nbtc4iOYDfxZLkfw
    提取码：trgk

  • 0 回复 ?? ?
    Prodigy 10 points

  • 0 回复 ?? ?
    TI__Guru**** 308311 points

    HI

        我看的是参考电路，看错了，是没有RCD电路。

        上面的波形，是轻载下的吗？  有接近MOS  VDS耐压？

  • 0 回复 Johnsin Tao
    Prodigy 10 points

    输入电压为240Vac，示波器看到的上管Vds大约在570V左右，而纳微GaN NV6115的耐压是650V，还有一些余量。不过问题是不知道它什么时候会烧，也不是每一台都会烧，会烧的板大约在1小时~3天内有5%的几率会烧。看波形图，当带载30mA以上的电流后，上管Vds的波形很稳定；带载30mA以下，Vds的波形相当不稳定，频率不停在变化。我们怀疑是不是Ti的UCC28780 ACF控制器在空载条件下工作会不稳定，导致上管有烧掉的可能。工厂内用满载（2.34A）老化没有发现有上管烧掉的问题，只有在空载条件下静置会烧上MOS。烧上MOS的时候也有少部分的几率造成UCC28780烧毁。

  • 0 回复 ?? ?
    TI__Guru**** 308311 points

    Hi

        问题仅出在轻载，在美国E2E上问一下，应该是有设计问题的，我这边没有板子测试，很难看到问题。

        https://e2e.ti.com/