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客户在测试温度高温保护55度，温度恢复40度，测试方式 在55度温箱放置2小时后，测试充电不能充电，待温度恢复到40以下时 测试充电，还是不能充电，用上位机查看状态充放电MOS是打开的，但是用CHG_FET_TOGGLE测试充电MOS开关 不受控，拆下电池，重新组装上电后，MOS又可以控制了，请问是什么原因导致，谢谢
Hi,
您的问题我们确认下给到您答复。
Thanks
可能是是由于采用了高级充电算法设置。
能否分享下设置和log file？
高级充电算法 就是正常用电源充放电 没有使用高级充电算法，软件界面CHG也是打开的啊，为什么重新上电后 又可以正常使用了
方便分享下设置详情和log file吗？我们来看下后给到您确切的答复。
BQ40Z50R1LG7A.gg.csvGG文件有 没有LOG
谢谢收到了，我们看下给您答复。
您好，
根据您目前提供的信息，工程师这边给到的反馈如下（如果需要更详细的debug，我们需要查看log file的哈）：
您可以检查 Safety Status 中的标志以查找保护措施，并确保未设置任何永久故障。 通常来说当触发保护或永久故障时，FW 会关断 CHG 和 DSG FET。
如果 FET 导通但未触发任何保护功能，就很可能是充电器电源问题。 如果 FET 导通，电量监测计是允许电流流动的。
电池输出端未接任何设备的情况下，用BQSTUDIO上的CHG_FET_TOGGLE 测试 发现充电MOS 不能正常开关
我们确认下再给到您答复。
在TEST模式下，请确保FET_EN = 0。
如果 FET 即使在 CHG 位切换的情况下也没有ON和OFF，那就有可能是 CHG FET 损坏了。
测试流程没问题，CHG FET不动作，在拆卸电池组重新组装后，功能恢复正常，确保CHG FET 没有损坏
抱歉回复晚了。
如果拆卸并重新连接电池组可以解决该问题的话，那很有可能是触发了保护，从而关闭了 DSG FET。
但我们需要您提供log file来帮助进一步定位该问题。
