BQ24610: 当24V充电器热插拔操作的时候，BQ24610受到的冲击是否有可能打坏芯片？

您好，文字描述真的很不方便，我必须写很多东西解释我的顾虑

1，我用示波器测量过，TI的系统我上传不了图片，只能说明如下，插入充电器后，BQ24610的输入电压在100uS内上升到24V，没有尖峰。也没有看到电压异常。

2，但是一个之前做笔记本电脑的技术人员告诉我，这种热插拔导致的异常，仅仅看示波器很难抓到（甚至可能抓不到）。而且他给我看的一些DCDC设计，支持输入24V热插拔的时候，使用的DCDC耐压值都在40V左右。我担心这会不会像钽电容的使用那样，有"必须降压50%使用"的设计规则？

3，回到我想咨询的问题，如果有人用24V充电器，直接对BQ24610进行热插拔操作，是否有风险？我的意思是，BQ24610本身是充电IC，所以热插拔应该是基本操作。那么在贵司的设计中，BQ246102可以支持24V的热插拔，但是要确认许多参数。甚至每次更换一个充电器都要重新确认，反复测试。还是说BQ24610实际很多应用于24V充电器热插拔的应用中，我不用过于担心？

再补充一下，4，BQ24610使用（例如6串电芯）的时候，是否需要搭配hotswap之类的芯片来防止热拔插， 还是说Input Overvoltage Protections的作用就是用于支持热插拔的？

您好，正在询问更了解这款芯片的TI工程师，稍后回复。