BQ27Z746: ESD 测试引起Charge Pump and nFET Driver 140mS的掉电重启

HI TI team 

BQ27Z746  P+，P－端口ESD测试（测试电压：接触4KV），电池输出瞬间有个140mS的掉电重启。

经检测BQ27Z746  CHG，DSG波形确认， 初步确认为Charge Pump and nFET Driver 有ESD测试瞬间有140mS的掉电重启现象，导致chg,dsg 有同步的关闭动作。

我们目前的电路，为官方推荐标准电路，麻烦分析下可能性或可能排查的方向。