您好，
通过MTBF/FIT估算器页面搜索到器件LMR51610YFDBVR的失效率数据如下表，在特定条件下测得的FIT数据为0.1。
| MTBF / FIT | MTBF / FIT supporting data | |||||||||
| Part number | MTBF | FIT | Usage temp (°C) | Conf level (%) | Activation energy (eV) | Test temp (°C) | Test duration (hours) | Sample size | Fails | Additional comments |
| LMR51610YFDBVR | 8.71x 10 9 | 0.1 | 55 | 60 | 0.7 | 125 | 1000 | 101758 | 0 | |
在器件页面查找到有芯片的失效分析文档 LMR516xx Functional Safety FIT Rate, FMD and Pin FMA
从文档可以查阅到芯片的失效率数据：
从数值上看，两种渠道获得的数据有差异。
请教一下， 我们在做电路FMEA时，应该使用哪个数据进行计算？
另外，对于一些没有失效分析文档的芯片（如缓冲器、逻辑、LDO等），怎样进行FMEA分析呢？TI是否有类似的文档可提供失效模式说明和对应的失效率分布？
谢谢。
