LM5116: 相位噪声问题

测量由LM5116芯片做出的BUCK电路，在输出电压纹波测试中，发现有低频振荡。更换芯片后，低频振荡的频率发生改变。

说明这个低频振荡跟随芯片，呈离散分布。请有经验的工程师给予指导，看如何能优化振荡。或者能有芯片设计师分析这个低频振荡产生的机理。

1.电源参数：

输入: DC30V

输出：10.3V最大电流20A

2. 原理图

• 测试样机1

测试条件：输入DC30V 输出10.3V10A。示波器20M带宽，探头加0.1uF+47uF电容

测试结果：，8.5KHz和12.5kHZ处有相噪鼓包。

2）测试样机2

测试结果：波形上有低频成分较大，1kHz处相噪变差。

样机2为批量产品中测试发现的一台相噪很差的电源（如上图所示），只更换芯片后再测试相噪波形与样机1相似。